全自動溫升試驗(yàn)裝置的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能比較強(qiáng)大，能查看歷史數(shù)據(jù)分析，并給出不同的統(tǒng)計(jì)圖，下面來看合眾電氣技術(shù)工程專家介紹，全自動溫升試驗(yàn)裝置歷史曲線畫面。

  FLASH記錄用于長期數(shù)據(jù)保存，一般設(shè)置的記錄間隔較長；記錄間隔從1秒到9999秒鐘來進(jìn)行選擇，各通道的記錄間隔一致。根據(jù)生產(chǎn)過程的需要，合理設(shè)置FLASH記錄的間隔，兼顧記錄間隔與時間的矛盾，可以準(zhǔn)確地反映過程參數(shù)的變化情況。（設(shè)置記錄間隔時間在顯示界面下的設(shè)置按鈕進(jìn)入系統(tǒng)參數(shù)測試選擇設(shè)置記錄間隔時間，在下面有介紹）
  追憶模式下的時標(biāo)不能改變，由FLASH存儲的記錄間隔決定。

  追憶模式下時間顯示為曲線右側(cè)起點(diǎn)的時間。

  追憶模式下的報(bào)警狀態(tài)指示仍為實(shí)時報(bào)警狀態(tài)而不是記錄狀態(tài)。

  上述文章是全自動溫升試驗(yàn)裝置歷史曲線畫面，如果需要采購溫升試驗(yàn)裝置，請?jiān)诰€聯(lián)系我們客服，我們將安排專業(yè)的技術(shù)人員和您對接。